以下抑制自掺杂的方法不正确的是()
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以下抑制自掺杂的方法不正确的是()
A.采用背封技术,如生长二氧化硅或者多晶硅
B.采用低温外延技术
C.采用含卤原子的硅源
D.外延生长前高温加热沉底,表面形成耗尽层
参考答案:
以下抑制自掺杂的方法不正确的是()
A.采用背封技术,如生长二氧化硅或者多晶硅
B.采用低温外延技术
C.采用含卤原子的硅源
D.外延生长前高温加热沉底,表面形成耗尽层
参考答案: