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● 现代电子设计方法包含了可测试设计,其中(39) 接口是 IC 芯片测试的标准接口。 (39)

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● 现代电子设计方法包含了可测试设计，其中（39）接口是 IC 芯片测试的标准接口。

（39）A. BIST B. JTAG C. UART D. USB

参考答案:

B

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